 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50456-3-1999 |  на печать | | Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик формовочных масс для электронных компонентов. Часть 3. Определение катионных загрязнений |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50456-3-1999 | | Заглавие на русском языке | Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик формовочных масс для электронных компонентов. Часть 3. Определение катионных загрязнений | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Method for the characterisation of moulding compounds for electronic components - Part 3: Determination of cationic impurities | | Дата опубликования | 01.08.1999 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50456-3(1998-03) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 2 | | Перекрестные ссылки | DIN 8120-1(1981-07)*DIN 38406-22(1988-03)*DIN 50451-1(1987-10)*DIN 50456-2(1995-04) | | Код цены | Preisgruppe 5 | |
| | Стандарт DIN 50456-3-1999 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|