 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50452-2-2009 |  на печать | | Испытания материалов для полупроводниковой технологии. Метод гранулометрического анализа в жидкотях. Часть 2. Определение частиц с применением оптических счетчиков |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50452-2-2009 | | Заглавие на русском языке | Испытания материалов для полупроводниковой технологии. Метод гранулометрического анализа в жидкотях. Часть 2. Определение частиц с применением оптических счетчиков | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 2: Determination of particles by optical particle counters | | Дата опубликования | 01.10.2009 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50452-2(1991-03) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 11 | | Перекрестные ссылки | DIN EN ISO 14644-1(1999-07) | | Код цены | Preisgruppe 8 | |
| | Стандарт DIN 50452-2-2009 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|