 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50450-1-1987 |  на печать | | Испытание материалов, применяемых в технологии изготовления полупроводников. Определение содержания примесей в газах-носителях и легирующих газах. Определение содержания воды в водороде, кислороде, азоте, аргоне и гелие при помощи ячейки с пентаоксидом фосфора |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50450-1-1987 | | Заглавие на русском языке | Испытание материалов, применяемых в технологии изготовления полупроводников. Определение содержания примесей в газах-носителях и легирующих газах. Определение содержания воды в водороде, кислороде, азоте, аргоне и гелие при помощи ячейки с пентаоксидом фосфора | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of water impurity in hydrogen, oxygen, nitrogen, argon and helium by using a diphosphorus pentoxide cell | | Дата опубликования | 01.08.1987 | | МКС | 71.100.20 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50450-1(1985-02) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 2 | | Перекрестные ссылки | DIN 1310(1984-02)*DIN ISO 6146(1983-04)*VDI 3490 Blatt 3(1980-12) | | Код цены | Preisgruppe 5 | |
| | Стандарт DIN 50450-1-1987 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|