 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 19722:2017 |  на печать | | Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения фотокаталитической активности полупроводниковых фотокаталитических материалов по расходу растворенного кислорода |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 19722:2017 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения фотокаталитической активности полупроводниковых фотокаталитических материалов по расходу растворенного кислорода | | Заглавие на английском языке | Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) -- Test method for determination of photocatalytic activity on semiconducting photocatalytic materials by dissolved oxygen consumption | | Код КС (ОКС, МКС) | 81.060.30 | | ТК – разработчик стандарта | TC 206 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 10.01.2017 | | Количество страниц оригинала | 24 | | Код цены | C | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 19722:2017 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
18346,00
|
|
|
|