 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 60749-44-2017 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 44. Метод определения одиночного импульса излучения (SEE), вызываемого пролетом пучка нейтронов, для полупроводниковых приборов |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 60749-44-2017 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 44. Метод определения одиночного импульса излучения (SEE), вызываемого пролетом пучка нейтронов, для полупроводниковых приборов | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (IEC 60749-44:2016); German version EN 60749-44:2016 | | Дата опубликования | 01.04.2017 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749-44(2014-08) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 22 | | Перекрестные ссылки | IEC 60749-38(2008-02)*IEC 62396-4(2013-09)*IEC 62396-5(2014-08) | | Код цены | Preisgruppe 15 | |
| | Стандарт DIN EN 60749-44-2017 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|