 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE EN 62047-25:2017 05 01 |  на печать | | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 25: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area (IEC 62047-25:2016) (english version) |
|
| | Библиография | Обозначение | OVE EN 62047-25:2017 05 01 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 25: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area (IEC 62047-25:2016) (english version) | | Код МКС | 31.080.99 | | Дата опубликования | 01.05.2017 | | Язык оригинала | английский | |
| | Стандарт OVE EN 62047-25:2017 05 01 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На английском языке |
0,00
|
|
|
|