 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 62047-30(2017) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 30. Методы измерения характеристик электромеханического преобразования пьезоэлектрических тонких пленок MEMS |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 62047-30(2017) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 30. Методы измерения характеристик электромеханического преобразования пьезоэлектрических тонких пленок MEMS | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 30: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film | | МКС | 31.080.99, 31.140 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 15.09.2017 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 24 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47/SC 47F | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | E | |
| | Стандарт IEC 62047-30(2017) входит в рубрики классификатора:
| | | | | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
21528,00
|
|
|
|