|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC/TR 63133(2017) | на печать | Приборы полупроводниковые. Оценка уровня старения полупроводниковых приборов, основанная на сканировании |
|
| | Библиография Обозначение | IEC/TR 63133(2017) | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Оценка уровня старения полупроводниковых приборов, основанная на сканировании | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices | МКС | 31.080.01 | Вид стандарта | ST | Дата опубликования | 11.10.2017 | Язык оригинала | английский | Количество страниц оригинала | 22 | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | Номер издания | 1.0 | Статус | Действует | Код цены | E | |
| | Стандарт IEC/TR 63133(2017) входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
20010,00
|
|
|