 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE EN 62435-2:2017 11 01 |  на печать | | Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices -- Part 2: Deterioration mechanisms (IEC 62435-2:2017) (english version) |
|
| | Библиография | Обозначение | OVE EN 62435-2:2017 11 01 | | Заглавие на английском языке | Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices -- Part 2: Deterioration mechanisms (IEC 62435-2:2017) (english version) | | Код МКС | 31.020 | | Дата опубликования | 01.11.2017 | | Язык оригинала | английский | |
| | Стандарт OVE EN 62435-2:2017 11 01 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На английском языке |
0,00
|
|
|
|