![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/search.gif) |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE EN 62435-2:2017 11 01 | на печать | Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices -- Part 2: Deterioration mechanisms (IEC 62435-2:2017) (german version) |
|
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Библиография Обозначение | OVE EN 62435-2:2017 11 01 | Заглавие на английском языке | Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices -- Part 2: Deterioration mechanisms (IEC 62435-2:2017) (german version) | Код МКС | 31.020 | Дата опубликования | 01.11.2017 | Язык оригинала | немецкий | ![](/i/imgs/sp.gif) |
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Стандарт OVE EN 62435-2:2017 11 01 входит в рубрики классификатора:
| |
| ![](/i/imgs/sp.gif) |
|
![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/sp.gif) |
Цены |
На немецком языке |
0,00
|
|
|