 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE EN 60749-3:2018 02 01 | на печать | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2017) (english version) |
|
|  | Библиография Обозначение | OVE EN 60749-3:2018 02 01 | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2017) (english version) | Код МКС | 31.080.01 | Дата опубликования | 01.02.2018 | Язык оригинала | английский |  |
|  | Стандарт OVE EN 60749-3:2018 02 01 входит в рубрики классификатора:
| |
|  |
|
 |
 |
Цены |
На английском языке |
0,00
|
|
|