 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 17915:2018 |  на печать | | Оптика и фотоника. Методы измерения характеристик полупроводниковых лазеров для оптического зондирования |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 17915:2018 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Оптика и фотоника. Методы измерения характеристик полупроводниковых лазеров для оптического зондирования | | Заглавие на английском языке | Optics and photonics -- Measurement method of semiconductor lasers for sensing | | Код КС (ОКС, МКС) | 31.260 | | Обозначение заменяемого(ых) | ISO/TS 17915:2013 | | ТК – разработчик стандарта | TC 172/SC 9 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 25.05.2018 | | Количество страниц оригинала | 36 | | Аннотация (область применения) | В этом документе описаны способы измерения температурной и токовой зависимости длин волн излучения и ширины спектральной линии полупроводниковых лазеров для сенсорных применений.
Настоящий документ применим ко всем видам полупроводниковых лазеров, таких как лазеры с торцевым излучением, лазеры с вертикальным резонатором с поверхностным излучением, лазеры с объемными и напряженными квантовыми ямами и квантово-каскадные лазеры, используемые для оптического зондирования, например, в промышленности, медицине и сельском хозяйстве | | Количество страниц перевода | 36 | | Код цены | E | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 17915:2018 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
29016,00
|
| Перевод на русский язык |
58032,00
|
|
|
|