![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/search.gif) |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE EN IEC 60749-12:2018 08 01 | на печать | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 12: Vibration, variable frequency ((IEC 60749-12:2017) EN IEC 60749-12:2018) (german version) |
|
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Библиография Обозначение | OVE EN IEC 60749-12:2018 08 01 | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 12: Vibration, variable frequency ((IEC 60749-12:2017) EN IEC 60749-12:2018) (german version) | Код МКС | 31.080.01 | Дата опубликования | 01.08.2018 | Язык оригинала | немецкий | ![](/i/imgs/sp.gif) |
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Стандарт OVE EN IEC 60749-12:2018 08 01 входит в рубрики классификатора:
| |
| ![](/i/imgs/sp.gif) |
|
![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/sp.gif) |
Цены |
На немецком языке |
0,00
|
|
|