 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 8289-1:2020 | на печать | Эмали стекловидные и фарфоровые. Испытание низким напряжением для обнаружения и определения местонахождения дефектов. Часть 1. Испытание на сплошность для непрофильных поверхностей |
|
|  | Библиография Обозначение | ISO 8289-1:2020 | Статус | Действует | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Эмали стекловидные и фарфоровые. Испытание низким напряжением для обнаружения и определения местонахождения дефектов. Часть 1. Испытание на сплошность для непрофильных поверхностей | Заглавие на английском языке | Vitreous and porcelain enamels Low-voltage test for detecting and locating defects Part 1: Swab test for non-profiled surfaces | Код КС (ОКС, МКС) | 25.220.50 | Обозначение заменяемого(ых) | ISO 8289:2000 | ТК – разработчик стандарта | TC 107 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 1 | Дата опубликования | 10.02.2020 | Количество страниц оригинала | 10 | Код цены | A | Примечание | |  |
|  | Стандарт ISO 8289-1:2020 входит в рубрики классификатора:
| |
|  |
|
 |
 |
Цены |
На языке оригинала |
8050,00
|
|
|