|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE EN 60749-43:2020 01 01 | на печать | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (IEC 60749-43:2017) (german version) |
|
| | Библиография Обозначение | OVE EN 60749-43:2020 01 01 | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (IEC 60749-43:2017) (german version) | Код МКС | 31.080.01 | Дата опубликования | 01.01.2020 | Язык оригинала | немецкий | |
| | Стандарт OVE EN 60749-43:2020 01 01 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На немецком языке |
0,00
|
|
|