 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS D ISO 19319(2020 Confirm) |  на печать | | Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Determination of lateral resolution, analysis area, and sample area viewed by the analyzer |
|
| | Библиография | Обозначение | KS D ISO 19319(2020 Confirm) | | Международный стандарт | ISO 19319:2003(IDT) | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Determination of lateral resolution, analysis area, and sample area viewed by the analyzer | | Дата опубликования | 2005.12.28 | | Код МКС | 71.040.40 | |
| | Стандарт KS D ISO 19319(2020 Confirm) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|