|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO/TS 22933:2022 | на печать | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS). Метод измерения разрешения по массе в SIMS |
|
| | Библиография Обозначение | ISO/TS 22933:2022 | Статус | Действует | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS). Метод измерения разрешения по массе в SIMS | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis Secondary ion mass spectrometry Method for the measurement of mass resolution in SIMS | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 1 | Дата опубликования | 01.04.2022 | Количество страниц оригинала | 22 | Код цены | C | Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации | |
| | Стандарт ISO/TS 22933:2022 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
16704,00
|
|
|