![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/search.gif) |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS C IEC 60749-17 | на печать | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation |
|
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Библиография Обозначение | KS C IEC 60749-17 | Международный стандарт | IEC 60749-17:2019(IDT) | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation | Дата опубликования | 2021.12.29 | Код МКС | 31.080.01 | ![](/i/imgs/sp.gif) |
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Стандарт KS C IEC 60749-17 входит в рубрики классификатора:
| |
| ![](/i/imgs/sp.gif) |
|
![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/sp.gif) |
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|