|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS X ISO 6342(2022 Confirm) | на печать | Micrographics - Aperture cards - Method of measuring thickness of buildup area |
|
| | Библиография Обозначение | KS X ISO 6342(2022 Confirm) | Международный стандарт | ISO 6342:1994(IDT) | Заглавие на английском языке | Micrographics - Aperture cards - Method of measuring thickness of buildup area | Дата опубликования | 2007.10.31 | Код МКС | 37.080 | |
| | Стандарт KS X ISO 6342(2022 Confirm) входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|