 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 62047-43(2024) | на печать | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 43. Метод определения электрических характеристик гибких микроэлектромеханических устройств после циклической деформации изгиба |
|
|  | Библиография Обозначение | IEC 62047-43(2024) | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 43. Метод определения электрических характеристик гибких микроэлектромеханических устройств после циклической деформации изгиба | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices | МКС | 31.080.99 | Вид стандарта | ST | Дата опубликования | 19.03.2024 | Язык оригинала | английский | Количество страниц оригинала | 18 | ТК – разработчик стандарта | TC 47/SC 47F | Номер издания | 1.0 | Статус | Действует | Код цены | E |  |
|  | Стандарт IEC 62047-43(2024) входит в рубрики классификатора:
| |
|  |
|
 |
 |
Цены |
На языке оригинала |
21528,00
|
|
|