 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 5618-2:2024 |  на печать | | Тонкая керамика (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения дефектов поверхности кристаллов GaN. Часть 2. Метод определения плотности ямок травления |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 5618-2:2024 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Тонкая керамика (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения дефектов поверхности кристаллов GaN. Часть 2. Метод определения плотности ямок травления | | Заглавие на английском языке | Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) Test method for GaN crystal surface defects Part 2: Method for determining etch pit density | | Код КС (ОКС, МКС) | 81.060.30 | | ТК – разработчик стандарта | TC 206 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 30.04.2024 | | Количество страниц оригинала | 32 | | Код цены | D | | Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации | |
| | Стандарт ISO 5618-2:2024 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
24149,00
|
|
|
|