 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 31225-2014 |  на печать | | Test method for the thickness of silicon oxide on Si substrate by ellipsometer |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 31225-2014 | | Заглавие на английском языке | Test method for the thickness of silicon oxide on Si substrate by ellipsometer | | Дата опубликования | 2014-09-30 | | Дата вступления в силу | 2015-04-15 | | Код МКС | 17.040.01 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 12 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | CCS Code | J04 | |
| | Стандарт GB/T 31225-2014 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1210,00
|
|
|
|