 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 4937.4-2012 |  на печать | | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 4937.4-2012 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) | | Дата опубликования | 2012-11-05 | | Дата вступления в силу | 2013-02-15 | | Код МКС | 31.080.01 | | Разработан на основе | IEC 60749-4:2002 | | Степень гармонизации | IDT | | Количество страниц оригинала | 8 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | CCS Code | L40 | |
| | Стандарт GB/T 4937.4-2012 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1094,00
|
|
|
|