 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 20263:2024 |  на печать | | Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 20263:2024 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов | | Заглавие на английском языке | Microbeam analysis Analytical electron microscopy Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials | | Код КС (ОКС, МКС) | 37.020; 71.040.50 | | Обозначение заменяемого(ых) | ISO 20263:2017 | | ТК – разработчик стандарта | TC 202/SC 3 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 2 | | Дата опубликования | 06.11.2024 | | Количество страниц оригинала | 54 | | Код цены | F | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 20263:2024 входит в рубрики классификатора:
| | | | | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
30102,00
|
|
|
|