 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 43087-2023 |  на печать | | Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 43087-2023 | | Заглавие на английском языке | Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials | | Дата опубликования | 2023-09-07 | | Дата вступления в силу | 2024-04-01 | | Код МКС | 71.040.50 | | Разработан на основе | ISO 20263:2017 | | Степень гармонизации | MOD | | Количество страниц оригинала | 44 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | N33 | |
| | Стандарт GB/T 43087-2023 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
4032,00
|
|
|
|