| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz -- Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method (IEC 61967-4:2002/COR1:2017) (Corrigendum) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz -- Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method (IEC 61967-4:2002/COR1:2017) (Corrigendum) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Схемы интегральные. Измерение стойкости к электромагнитным помехам. Часть 1. Общие положения и определения
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Схемы интегральные. Измерение стойкости к электромагнитным помехам. Часть 1. Общие положения и определения
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers -- Part 2: LIN transceivers ( IEC 62228-2:2016) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers -- Part 2: LIN transceivers ( IEC 62228-2:2016) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions -- Part 1: General conditions and definitions ((IEC 61967-1:2018) EN IEC 61967-1:2019) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions -- Part 1: General conditions and definitions ((IEC 61967-1:2018) EN IEC 61967-1:2019) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers -- Part 1: General conditions and definitions (IEC 62228-1:2018) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers -- Part 1: General conditions and definitions (IEC 62228-1:2018) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers -- Part 3: CAN transceivers ((IEC 62228-3:2019) EN IEC 62228-3:2019) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers -- Part 3: CAN transceivers ((IEC 62228-3:2019) EN IEC 62228-3:2019) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
EMC IC modelling - Part 1: General modelling framework (IEC 62433-1:2019) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
EMC IC modelling - Part 1: General modelling framework (IEC 62433-1:2019) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Часть 16-10. Технологический график премки монолитных интегральных схем
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Integrated circuits - Manufacturing line approval application guideline (IEC 61943:1999)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Integrated circuits - Memory devices pin configurations (IEC 61964:1999)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излученных излучений. Метод с применением ТЕМ элементов и широкополосных ТЕМ элементов
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 5. Измерение наведенных излучений. Стендовый метод клетки Фарадея
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 6. Измерение наведенных излучений. Метод с применением магнитного зонда
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
| Страницы: 1 / 2 |