|
 |
|
 |
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск |
|
|
|
|
Стандарты ONORM защищены авторским правом. Федеральное государственное бюджетное учреждение «Российский институт стандартизации» имеет Соглашение с Австрийским институтом стандартом (ASI) о распространении и воспроизведении стандартов ONORM на территории РФ.
Заказчику предоставляется 1 копия стандарта на языке оригинала и/или 1 копия перевода для 1 (одного) пользователя на 1 (одно) рабочее место. Копировать документ, распространять, помещать его в места общего доступа, в архивные и другие электронные системы строго запрещено. Несоблюдение данного требования строго контролируется как правообладателем, так и дистрибьюторами.
В том случае, если документы будут использоваться на нескольких рабочих местах, необходимо приобретение сетевой лицензии на несколько пользователей
Для приобретения сетевой лицензии обращайтесь в отдел распространения документов по стандартизации по адресу: gost@gostinfo.ru с указанием номера Вашей регистрации (№ клиента) на сайте.
Международные и зарубежные стандарты заказать возможно, направляйте заявку в отдел распространения документов по стандартизации на адрес gost@gostinfo.ru
Пьезоэлектрические и диэлектрические приборы
Фильтр по статусу:
Найдено: 60 документов | Страницы: 1 / 2 / 3 |
Заказ можно оформить только на действующие документы, у которых проставлена цена.Счет действителен к оплате в течение 10 рабочих дней.
| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Quartz crystal units of assessed quality -- Part 1: Generic specification (IEC 60122-1:2002 + A1:2017) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Quartz crystal units of assessed quality -- Part 1: Generic specification (IEC 60122-1:2002 + A1:2017) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Measurement of quartz crystal unit parameters -- Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units (IEC 60444-8:2016) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Measurement of quartz crystal unit parameters -- Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units (IEC 60444-8:2016) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality -- Part 1: Generic specification (IEC 60679-1:2017) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality -- Part 1: Generic specification (IEC 60679-1:2017) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Synthetic quartz crystal - Specifications and guidelines for use ( IEC 60758:2016) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Synthetic quartz crystal - Specifications and guidelines for use ( IEC 60758:2016) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Piezoelectric devices - Preparation of outline drawings of surface-mounted devices (SMD) for frequency control and selection - General rules ( IEC 61240:2016) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Piezoelectric devices - Preparation of outline drawings of surface-mounted devices (SMD) for frequency control and selection - General rules ( IEC 61240:2016) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods ( IEC 62276:2016) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods ( IEC 62276:2016) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators -- Part 1: Basic methods for the measurement (IEC 62884-1:2017) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators -- Part 1: Basic methods for the measurement (IEC 62884-1:2017) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators -- Part 2: Phase jitter measurement method ( IEC 62884-2:2017) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators -- Part 2: Phase jitter measurement method ( IEC 62884-2:2017) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Quartz crystal units of assessed quality - Part 4: Crystal units with thermistors (IEC 60122-4:2019) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Quartz crystal units of assessed quality - Part 4: Crystal units with thermistors (IEC 60122-4:2019) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
| Страницы: 1 / 2 / 3 |
|
отдел распространения документов по стандартизации: e-mail: gost@gostinfo.ru, телефон: 8 (800) 101-92-72
|