| Обозначение | ISO/TTA 4:2002 |
| Статус | Отменен |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Измерение удельной теплопроводности тонких пленок на кремниевых подложках |
| Заглавие на английском языке | Measurement of thermal conductivity of thin films on silicon substrates |
| Дата отмены | 30.09.2017 |
| Код КС (ОКС, МКС) | 19.100 |
| ТК – разработчик стандарта | VAMAS |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 28.11.2002 |
| Количество страниц оригинала | 24 |
| Код цены | D |
| Примечание | |
 |