Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/3636855.aspx

IEC 62047-2(2006)

Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 2. Метод испытания на растяжение тонкопленочных материалов

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеIEC 62047-2(2006)
Заглавие на русском языкеПолупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 2. Метод испытания на растяжение тонкопленочных материалов
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials
МКС31.080.99
Вид стандартаST
Дата опубликования17.08.2006
Язык оригиналаанглийский;французский
Количество страниц оригинала28
ТК – разработчик стандарта TC 47
Номер издания1.0
СтатусДействует
Код ценыD

Стандарт IEC 62047-2(2006) входит в рубрики классификатора: