| Обозначение | IEC 60749-11(2002)/Cor.1(2003) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двух ванн. Поправка 1 |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method. Corrigendum 1 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого в части | IEC 60749-11(2002) |
| Дата опубликования | 31.01.2003 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 1 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | * |
 |