Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/3642774.aspx

IEC 60749-22(2002)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 22. Прочность сварных контактов

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеIEC 60749-22(2002)
Заглавие на русском языкеПриборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 22. Прочность сварных контактов
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 22. Bond strength
МКС31.080.01
Вид стандартаST
Обозначение заменяемого(ых) IEC 60749(1996) в части, IEC 60749(1996)/Amd.1(2000) в части, IEC 60749(1996)/Amd.2(2001) в части, IEC 60749(2002) в части
Обозначение заменяющего в частиIEC 60749-22(2002)/Cor.1(2003)
Дата опубликования13.09.2002
Язык оригиналаанглийский;французский
Количество страниц оригинала44
ТК – разработчик стандарта TC 47
Номер издания1.0
СтатусДействует
Код ценыF

Стандарт IEC 60749-22(2002) входит в рубрики классификатора: