Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/3642812.aspx

IEC 60749-35(2006)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия для электронных компонентов в пластиковой упаковке

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеIEC 60749-35(2006)
Заглавие на русском языкеПриборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия для электронных компонентов в пластиковой упаковке
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
МКС31.080.01
Вид стандартаST
Обозначение заменяемого(ых) IEC/PAS 62191(2000)
Дата опубликования27.07.2006
Язык оригиналаанглийский;французский
Количество страниц оригинала46
ТК – разработчик стандарта TC 47
Номер издания1.0
СтатусДействует
Код ценыF

Стандарт IEC 60749-35(2006) входит в рубрики классификатора: