| Обозначение | IEC/PAS 62181(2000) |
| Заглавие на русском языке | Испытание нарушения срабатывания интегральных схем (IC) |
| Заглавие на английском языке | IC latch-up test |
| МКС | 31.080.01 |
| Наличие терминов РОСТЕРМ | 1 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяющего | IEC 60749-29(2003) |
| Дата опубликования | 01.07.2000 |
| Язык оригинала | английский |
| Количество страниц оригинала | 21 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | |
 |