Обозначение | IEC/PAS 62202(2000) |
Заглавие на русском языке | Механизмы и модели отказа для кремниевых полупроводниковых приборов |
Заглавие на английском языке | Failure mechanisms and models for silicon semiconductor devices |
МКС | 31.080.01 |
Вид стандарта | ST |
Дата опубликования | 01.11.2000 |
Язык оригинала | английский |
Количество страниц оригинала | 38 |
ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
Номер издания | 1.0 |
Статус | Отменен |
Код цены | |
![](/i/imgs/sp.gif) |