| Обозначение | DIN EN 60749-2002 |
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001) |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001); German version EN 60749:1999 + A1:2000 + A2:2001 |
| Дата опубликования | 01.09.2002 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2001-09) |
| Обозначение заменяющего | DIN EN 60749-1(2003-12)*DIN EN 60749-2(2003-04)*DIN EN 60749-3(2003-04)*DIN EN 60749-4(2003-04)*DIN EN 60749-5(2003-09)*DIN EN 60749-6(2003-04)*DIN EN 60749-7(2003-04)*DIN EN 60749-8(2003-12)*DIN EN 60749-9(2003-04)*DIN EN 60749-10(2003-04)*DIN EN 60749-11(2003-04)*DIN EN 60749-12(2003-04)*DIN EN 60749-13(2003-04)*DIN EN 60749-14(2004-07)*DIN EN 60749-15(2003-10)*DIN EN 60749-19(2003-10)*DIN EN 60749-20(2003-12)*DIN EN 60749-21(2005-06)*DIN EN 60749-22(2003-12)*DIN EN 60749-25(2004-04)*DIN EN 60749-31(2003-12)*DIN EN 60749-32(2003-12)*DIN EN 60749-36(2003-12) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 74 |
| Перекрестные ссылки | IEC 60068-1(1988)*IEC 60068-2-3(1969)*IEC 60068-2-6(1995-03)*IEC 60068-2-7(1983)*IEC 60068-2-11(1981)*IEC 60068-2-13(1983)*IEC 60068-2-14(1984)*IEC 60068-2-17(1994-07)*IEC 60068-2-20(1979)*IEC 60068-2-21(1983)*IEC 60068-2-45(1980)*IEC 60068-2-47(1982)*IEC 60068-2-48(1982)*IEC/TR 60653(1979)*IEC 60695-2-2(1991-04)*IEC 60747-1(1983)*IEC 60748-1(1984) |
| Код цены | Preisgruppe 25 |
 |