| Обозначение | DIN EN 60749-4-2003 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Высокоускоренные испытания в утяжеленном установившемся режиме, вызванным влажным теплом (HAST) |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002); German version EN 60749-4:2002 |
| Дата опубликования | 01.04.2003 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2002-09, partial) |
| Обозначение заменяющего | DIN EN 60749-4(2017-11) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 9 |
| Перекрестные ссылки | IEC 60749-5(2003-01) |
| Код цены | Preisgruppe 8 |
 |