| Обозначение | DIN 41792-6-1981 |
| Заглавие на английском языке | Low power semiconductor devices; measuring methods; field effect transistors |
| Дата опубликования | 01.05.1981 |
| МКС | 31.080.30 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN 41792 Beiblatt 6(1974.12) |
| Обозначение заменяющего | DIN IEC 60747-8(1989.08) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 6 |
| Перекрестные ссылки | DIN 41791-9*DIN 41792*DIN 41792 Beiblatt 1 |
| Код цены | Preisgruppe 7 |
 |