| Обозначение | DIN EN 60749-3-2003 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection (IEC 60749-3:2002); German version EN 60749-3:2002 |
| Дата опубликования | 01.04.2003 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2002-09, partial) |
| Обозначение заменяющего | DIN EN 60749-3(2018-01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 5 |
| Перекрестные ссылки | |
| Код цены | Preisgruppe 5 |
 |