Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/4037012.aspx

DIN 50451-3-2003

Испытание материалов, применяемых в технологии изготовления полупроводников. Определение содержания примесей в жидкостях. Часть 3. Определение содержания алюминия (Al), кобальта (Co), меди (Cu), натрия (Na), никеля (Ni) и цинка (Zn) в азотной кислоте с помощью ICP-MS масс-спектрометра с индуцируемой плазмой

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеDIN 50451-3-2003
Заглавие на русском языкеИспытание материалов, применяемых в технологии изготовления полупроводников. Определение содержания примесей в жидкостях. Часть 3. Определение содержания алюминия (Al), кобальта (Co), меди (Cu), натрия (Na), никеля (Ni) и цинка (Zn) в азотной кислоте с помощью ICP-MS масс-спектрометра с индуцируемой плазмой
Заглавие на английском языкеTesting of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 3: Aluminium (Al), cobalt (Co), copper (Cu), sodium (Na), nickel (Ni) and zinc (Zn) in nitric acid by ICP-MS
Дата опубликования01.04.2003
МКС29.045
Вид стандартаST
Обозначение заменяемого(ых) DIN 50451-3(1994-10)*DIN 50451-3(2002-01)
Обозначение заменяющегоDIN 50451-3(2014-11)
Язык оригиналанемецкий
Количество страниц оригинала8
Перекрестные ссылкиDIN 8120-1(1981-07)*DIN 32645(1994-05)*DIN 38406-29(1999-05)*DIN 51009(2001-12)*DIN EN ISO 1042(1999-08)*DIN EN ISO 1043-1(2002-06)*DIN EN ISO 8655-2(2002-12)*DIN EN ISO 14644-1(1999-07)*DIN ISO 3696(1991-06)*ASTM D 5127(1999)*VDI 2083 Blatt 1(2001-11)(Draft)
Код ценыPreisgruppe 6

Стандарт DIN 50451-3-2003 входит в рубрики классификатора: