| Обозначение | DIN EN 60749-2001 |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000); German version EN 60749:1999 + A1:2000 |
| Дата опубликования | 01.09.2001 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2000-02) |
| Обозначение заменяющего | DIN EN 60749(2002-09) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 61 |
| Перекрестные ссылки | DIN EN 60068-1(1995-03)*DIN EN 60068-2-6(1996-05)*DIN EN 60068-2-7(1995-03)*DIN EN 60068-2-11(2000-02)*DIN EN 60068-2-13(2000-02)*DIN EN 60068-2-14(2000-08)*DIN EN 60068-2-17(1995-05)*DIN EN 60068-2-21(1999-10)*DIN EN 60068-2-45(1994-02)*DIN EN 60068-2-47(2000-08)*DIN EN 60068-2-48(2000-09)*DIN EN 60695-2-2(1996-09)*DIN IEC 60068 Beiblatt 10(1985-08)*DIN IEC 60068-2-3(1986-12)*DIN IEC 60747-1(1987-03)*DIN IEC 60748-1(1988-01)*IEC 60068-1(1988)*IEC 60068-2-3(1969)*IEC 60068-2-6(1995-03)*IEC 60068-2-7(1983)*IEC 60068-2-11(1981)*IEC 60068-2-13(1983)*IEC 60068-2-14(1984)*IEC 60068-2-17(1994-07)*IEC 60068-2-20(1979)*IEC 60068-2-21(1999-01)*IEC 60068-2-45(1980)*IEC 60068-2-47(1999-10)*IEC 60068-2-48(1982)*IEC/TR 60653(1979)*IEC 60695-2-2(1991-04)*IEC 60747-1(1983)*IEC 60748-1(1984) |
| Код цены | Preisgruppe 21 |
 |