| Обозначение | DIN EN 60749-6-2003 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002); German version EN 60749-6:2003 |
| Дата опубликования | 01.04.2003 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2002-09, partial) |
| Обозначение заменяющего | DIN EN 60749-6(2017-11) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 7 |
| Перекрестные ссылки | EN 60068-2-48(1999-11)*IEC 60068-2-48(1982) |
| Код цены | Preisgruppe 6 |
 |