| Обозначение | DIN EN 60749-1-2003 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 1. Общие положения |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002 + Corr. 1:2003); German version EN 60749-1:2003 |
| Дата опубликования | 01.12.2003 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2002-09, partial)*DIN EN 60749-1(2002-06) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 10 |
| Перекрестные ссылки | EN 60747 Reihe*IEC 60050 Reihe*IEC 60747 Reihe*IEC 60748 Reihe |
| Код цены | Preisgruppe 8 |
 |