| Обозначение | IEC 62526(2007) |
| Заглавие на русском языке | Стандартный язык тестирования интерфейсов (STIL) для сред проектирования полупроводников |
| Заглавие на английском языке | Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments |
| МКС | 25.040 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 15.11.2007 |
| Язык оригинала | английский |
| Количество страниц оригинала | 128 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 93 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | N |
 |