| Обозначение | IEC 60747-1(1983) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 1: Общие положения |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices. Discrete devices. Part 1 : General |
| МКС | 31.080 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | COLOUR CODES*DEFINITIONS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*ELECTRONICS*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*LAYOUT*LIFE (DURABILITY)*LIMITS (MATHEMATICS)*MARKING*MARKS*MEASUREMENT*RATINGS*RELIABILITY*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*SIGNS*SPECIFICATION (APPROVAL)*SYMBOLS*SPECIFICATIONS*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS*LIFE : DURABILITY |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60147-1G(1975)*IEC 60147-0D(1974)*IEC 60147-0E(1979)*IEC 60147-0(1966)*IEC 60147-0B(1969)*IEC 60147-0C(1973)*IEC 60147-0F(1982)*IEC 60147-1(1972)*IEC 60147-1F(1973)*IEC 60147-1H(1981)*IEC 60147-1J(1981)*IEC 60147-2(1963)*IEC 60147-2B(1970)*IEC 60147-2C(1970)*IEC 60147-2F(1974)*IEC 60147-2K(1978)*IEC 60147-2M(1980)*IEC 60147-3(1970)*IEC 60147-3A(1973)*IEC 60147-4(1976), 60147-2H(1976), IEC 60147-2J(1978) |
| Обозначение заменяющего | IEC 60747-1(2006) |
| Обозначение заменяющего в части | IEC 60747-1(1983)/Amd.1(1991), IEC 60747-1(1983)/Amd.2(1993), IEC 60747-1(1983)/Amd.3(1996) |
| Дата опубликования | 01.01.1983 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 156 |
| Количество страниц перевода | 75 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | |
 |