| Обозначение | IEC 60747-8(1984) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 8: Полевые транзисторы |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices. Discrete devices. Part 8 : Field-effect transistors |
| МКС | 31.080.30 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | DEFINITIONS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*FIELD-EFFECT TRANSISTORS*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*LIMITS (MATHEMATICS)*MARKING*MEASUREMENT*RATINGS*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*SPECIFICATION (APPROVAL)*TRANSISTORS*SPECIFICATIONS*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60147-2G(1975) |
| Обозначение заменяющего | IEC 60747-8(2000) |
| Обозначение заменяющего в части | IEC 60747-8(1984)/Amd.1(1991); IEC 60747-8(1984)/Amd.2(1993) |
| Дата опубликования | 01.01.1984 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 95 |
| Количество страниц перевода | 61 |
| ТК – разработчик стандарта | IEC/SC 47E |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | |
 |