Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/4174577.aspx

IEC 62528(2007)

Стандартный метод проверки возможности тестирования для встроенных интегрированных цепей на основе ядра микропроцессора

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеIEC 62528(2007)
Заглавие на русском языкеСтандартный метод проверки возможности тестирования для встроенных интегрированных цепей на основе ядра микропроцессора
Заглавие на английском языкеStandard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits
МКС31.220
Вид стандартаST
Дата опубликования15.11.2007
Язык оригиналаанглийский
Количество страниц оригинала130
ТК – разработчик стандарта TC 93
Номер издания1.0
СтатусДействует
Код ценыN

Стандарт IEC 62528(2007) входит в рубрики классификатора: