| Обозначение | IEC 60747-11(1985)/Amd.1(1991) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 11: Частные технические условия на дискретные приборы. Изменение 1 |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices; part 11: sectional specification for discrete devices; amendment 1 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | DISCRETE DEVICES*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*MARKING*MEASUREMENT*QUALITY ASSURANCE*SECTIONAL SPECIFICATION*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*SPECIFICATION (APPROVAL)*SPECIFICATIONS*ELECTRONIC EQU |
| Обозначение заменяемого в части | IEC 60747-11(1985) |
| Дата опубликования | 01.11.1991 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 6 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Отменен |
| Код цены | |
 |