| Обозначение | DIN EN 62374-2008 |
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для управляющих диэлектрических пленок |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007); German version EN 62374:2007 |
| Дата опубликования | 01.02.2008 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 24 |
| Перекрестные ссылки | |
| Код цены | Preisgruppe 15 |
 |