| Обозначение | IEC 60749-4(2002) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Высокоускоренные испытания в утяжеленном установившемся режиме, вызванным влажным теплом (HAST) |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 4. Damp heat, steady state, highly accelerated stress tests (HAST) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC/PAS 62177(2000), IEC 60749(1996) в части, IEC 60749(1996)/Amd.1(2000) в части, IEC 60749(1996)/Amd.2(2001) в части, IEC 60749(2002) в части |
| Обозначение заменяющего | IEC 60749-4(2017) |
| Обозначение заменяющего в части | IEC 60749-4(2002)/Cor.1(2003) |
| Дата опубликования | 01.04.2002 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 18 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | B |
 |