| Обозначение | IEC 60759(1983) |
| Заглавие на русском языке | Спектрометры полупроводниковые энергии рентгеновского излучения. Стандартные методы испытаний |
| Заглавие на английском языке | Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers |
| МКС | 17.240 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | DEFINITIONS*DETECTORS (CIRCUITS)*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*MEASUREMENT*NUCLEAR TECHNOLOGY*RADIOACTIVITY*SEMICONDUCTORS*TESTING*X-RAYS*DETECTOR CIRCUITS*SEMICONDUCTOR DEVICES*NUCLEAR ENERGY*X RAYS |
| Обозначение заменяющего в части | IEC 60759(1983)/Amd.1(1991) |
| Примечание | Перевод выполнен без учета измененной части нового издания |
| Дата опубликования | 01.01.1983 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 100 |
| Количество страниц перевода | 79 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 45 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | J |
 |